Objeto
Alemania - Microscopios electrónicos de barrido # Rasterelektronenmikroskop Starke LOT-0001: Rasterelektronenmikroskop Starke / Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) für wissenschaftliche Anwendungen. Das System soll die Untersuchung und Charakterisierung unterschiedlicher Proben mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) sowie Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie (AFM/MFM) ermöglic...
Entidad
Hochschule Kaiserslautern
Clasificadores
Microscopios electrónicos de barrido
Compuestos diversos para microscopios