Objeto
Países Bajos - Microscopios electrónicos # Metrology SEM+FIB system LOT-0000: Metrology SEM+FIB system / Levering en installatie van één Metrology SEM+FIB-systeem Het doel van deze aanbesteding is dat TNO beoogt een overeenkomst aan te gaan met één (1) opdrachtnemer voor de levering en installatie van één Metrology SEM+FIB-systeem
Entidad
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Clasificadores
Microscopios electrónicos