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Suiza - Microscopios electrónicos de barrido # Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications LOT-0000: Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications / Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten von festem Mat...
Expediente
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Clasificadores
Microscopios electrónicos de barrido