Objeto
Suministro e instalación de la actualización (upgrade) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Jeol JSM-6500F, con destino al Centro Nacional de investigaciones metalúrgicas.
Comunidad y provincia
Comunidad de Madrid. Madrid
Clasificadores
Microscopios
Microscopios electrónicos de barrido
Financiacion
No hay financiación con fondos de la UE